平均粒度測試儀/平均粒度檢測儀型號：DP-WLP-209

更新時間：2015-12-29

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平均粒度測試儀/平均粒度檢測儀型號：DP-WLP-209

DP-WLP-209型平均粒度測試儀根據家標準（費氏法）要求，在對被測粉末試樣施壓時，采用了LTDK型可設定空轉式扭矩起子，（非同其他儀器所使用無科學依據的壓力校正器）。采用LTDK型扭矩起子，可使何操作人員在對粉末測試過程中均可達到相同的壓制力，地得到同種*孔隙度，消除了人為誤差，使被測粉末粒徑更加準確，同時本儀器配有雙向擴展讀數板，孔隙度范圍由原來的0.80—0.40（擴到0.95—0.80、擴到0.40—0.25），滿足了各種粉末測試需求。

標：

1、度：±3%
2、測試范圍： 0.2-50 μ m （微米）
　　 *檔： 0.2-20 μ m
　　二檔： 20-50 μ m
3.孔隙度范圍：0.95－0.80
　　　　　　　0.80－0.40
　　　　　　　0.40－0.25
4、準確度：±3%
5、環境濕度：相對濕度 ≤80%
6、環境溫度： 25 ± 10 ℃
7、電源：～220 ± 22V 50赫茲
8、率： 25W
9、重量： 18kg
10、外型尺寸： 746 × 394 × 240mm3

上一條自動射流萃取器/自動三聯射流萃取器DP-GGC-3
下一條數顯角度尺/數顯角度儀型號：DP-DA-103

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平均粒度測試儀/平均粒度檢測儀 型號：DP-WLP-209

平均粒度測試儀/平均粒度檢測儀型號：DP-WLP-209