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便攜式四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀四探針電阻率檢測儀四探針電阻率測定儀

更新時間：2013-09-30

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便攜式四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀四探針電阻率檢測儀

四探針電阻率測定儀型號：DP-KDY-1A

便攜式四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的及家標準測試方法有關規定。
它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由寬的恒流源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不過±3%，在此范圍內達到家標準機的水平。
便攜式四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀測量范圍：
可測量電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續可調
10mA量程：1mA ～10mA連續可調
恒流度：各檔均優于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
（3）直流數字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準確度：0.2%（±2個字）
（4）供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W
（5）使用環境：
相對濕度≤80%
（6）重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC

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